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標(biāo)簽：
如果只丟失一位數(shù)據(jù)，內(nèi)存控制器可運用反向校驗算法計算校驗和數(shù)據(jù)恢復(fù)丟失的比特。校驗和數(shù)據(jù)物理存儲在正在運行的DRAM設(shè)備上。.所有8個校驗和比特都用來恢復(fù)丟失的數(shù)據(jù)。
對于有糾正一位錯誤和校驗雙位錯誤（SEC/DED）功能的標(biāo)準(zhǔn)72/64漢明碼，只有單比特錯誤是不會導(dǎo)致運用反向校驗算法和整個系統(tǒng)故障。
前一個例子顯示E啟動CC單個SDRAMDIMM的可能排列方案。對于一些64位數(shù)據(jù)，DIMM里每個數(shù)據(jù)DRAM設(shè)備寫入4位數(shù)據(jù)。當(dāng)然，這個DIMM是用x4DRAM構(gòu)建的。
數(shù)據(jù)寫入的實際順序由內(nèi)存控制器和電路板布線決定。每一位可有多種存儲排列方式。然而，這個與要求無關(guān)緊要。ECC保護的基本要求仍然存在。那即是，對于一個64位數(shù)據(jù)段，需要有8個附加位校驗空間用以存儲校驗和。
在存儲時，當(dāng)已經(jīng)知道64位的值，內(nèi)存控制器計算64位的校驗和，并把校驗和連同數(shù)據(jù)一道寫入內(nèi)存。在讀取時，內(nèi)存控制器把64數(shù)據(jù)位和8個校驗位一同讀回。然后重新計算8個校驗位并與讀取的校驗位比較。比較結(jié)果叫做校驗子被用來確定是否出錯。一個標(biāo)準(zhǔn)的72/64漢明碼能糾正任何一位錯誤和校驗任何雙位錯誤。校驗和與數(shù)據(jù)存儲到兩個DRAM設(shè)備上的4位塊里。因而不能有超過4位任何64位數(shù)據(jù)段在DRAM上連續(xù)協(xié)同定位。
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